Chroma致茂/局部放電測試儀

產品型號： 19501-K/19500 Series

所屬分類：電氣安規測試解決方案

產品時間：2021-06-17

簡要描述：Chroma致茂/局部放電測試儀結合高電壓耐壓測試與局部放電（Partial Discharge）偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測范圍小可偵測1pC放電量，針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應用所開發。

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Chroma致茂/局部放電測試儀

主要特色：

Chroma 19501-K 局部放電測試器結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測范圍小可偵測1pC放電量，針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應用所開發。產品設計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規要求，同時內建IEC 60747-5-5法規之測試方法在儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供給使用者一個便利操作介面.

Chroma致茂/局部放電測試儀

在生產線上執行高壓測試時，如果被測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至是漏測的風險。因此，在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升其測試可靠度與效率。

• 單機內建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
• 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
• 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
• 局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規測試要求
• 內建IEC60747-5-5 測試方法
• 三段電壓測試功能
• PD測量結果數字化顯示(pC)
• PD 不良發生判定次數設定 (1~10)
• 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
• USB畫面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標準LAN, USB, RS232遠端控制介面

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